現(xiàn)代電子制造領(lǐng)域，元器件可靠性是決定產(chǎn)品質(zhì)量和壽命的關(guān)鍵因素。據(jù)統(tǒng)計(jì)，電子設(shè)備失效案例中約35%與焊接缺陷相關(guān)，其中焊點(diǎn)強(qiáng)度不足是主要誘因。推拉力測(cè)試作為評(píng)估電子元器件機(jī)械強(qiáng)度和連接可靠性的"黃金標(biāo)準(zhǔn)"，能夠有效驗(yàn)證焊接工藝的穩(wěn)定性，預(yù)測(cè)產(chǎn)品在實(shí)際應(yīng)用中的表現(xiàn)。本文科準(zhǔn)測(cè)控小編將系統(tǒng)介紹推拉力測(cè)試的技術(shù)原理、國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)體系、先進(jìn)測(cè)試設(shè)備以及標(biāo)準(zhǔn)操作流程。

一、測(cè)試原理

推拉力測(cè)試是通過施加垂直于或平行于基板方向的機(jī)械力，測(cè)量電子元件與基板間結(jié)合強(qiáng)度的動(dòng)態(tài)檢測(cè)方法。其核心原理在于模擬元器件在實(shí)際使用環(huán)境中可能遭受的機(jī)械應(yīng)力，量化評(píng)估連接界面的可靠性。

1、關(guān)鍵力學(xué)參數(shù)

最大剪切力/拉力：直接反映黏合層的機(jī)械強(qiáng)度

斷裂模式：分為內(nèi)聚破壞、界面破壞和基材破壞三種類型

力-位移曲線：用于分析黏合層的韌性和均勻性

2、典型失效模式

焊料層斷裂：發(fā)生在焊料內(nèi)部

界面剝離：焊料與PCB焊盤或元件端子分離

基材損傷：銅箔被拉起或FR4基材分層

二、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)體系

1. JEDEC標(biāo)準(zhǔn)（微電子行業(yè)）

JESD22-B117A：BGA凸點(diǎn)剪切測(cè)試

JESD22-B115：冷焊凸塊拉力測(cè)試

JESD22-B116：金球剪切測(cè)試

2. jun用標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-883

Method 2019：jun用電子器件的黏合強(qiáng)度測(cè)試

Method 2037：鍵合線拉力測(cè)試要求

3. IPC標(biāo)準(zhǔn)（電子組裝領(lǐng)域）

IPC-J-STD-002E：不同封裝器件的測(cè)試條件

0603電阻：推力≥3.0N

QFP引腳：拉力≥5.0N/引腳

三、測(cè)試設(shè)備（以Alpha W260為例）

1、Alpha W260推拉力測(cè)試機(jī)

A、設(shè)備介紹

Alpha-W260自動(dòng)推拉力測(cè)試機(jī)用于為微電子引線鍵合后引線焊接強(qiáng)度測(cè)試、焊點(diǎn)與基板表面粘接力測(cè)試及其失效分析領(lǐng)域的專用動(dòng)態(tài)測(cè)試儀器，常見的測(cè)試有晶片推力、金球推力、金線拉力等，采用高速力值采集系統(tǒng)。根據(jù)測(cè)試需要更換相對(duì)應(yīng)的測(cè)試模組,系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別模組，并自由切換量程。

B、推刀或鉤針

鉤針（25-75μm）：金線拉力測(cè)試

推刀（鍵合點(diǎn)直徑2.5倍）：剪切測(cè)試

特殊頂針和夾持裝置：異形元器件測(cè)試

C、常用工裝夾具

四、測(cè)試流程

步驟一、測(cè)試前準(zhǔn)備

設(shè)備校準(zhǔn)：力傳感器零點(diǎn)校準(zhǔn)和量程驗(yàn)證

樣品準(zhǔn)備：確保無可見損傷或污染

環(huán)境控制：溫度23±5℃，濕度40-60% RH

步驟二、測(cè)試執(zhí)行

參數(shù)設(shè)置：

測(cè)試速度：推力100-800μm/s，拉力0.2-2.0 mm/s

終止條件：力值下降80%或位移達(dá)到設(shè)定值

精確定位：使用集成顯微鏡找到待測(cè)位置

測(cè)試執(zhí)行：自動(dòng)完成力值施加和數(shù)據(jù)記錄

步驟三、數(shù)據(jù)分析與報(bào)告

1、結(jié)果分析

計(jì)算最大破壞力和單位面積強(qiáng)度

分析失效模式

統(tǒng)計(jì)測(cè)試數(shù)據(jù)（平均值、標(biāo)準(zhǔn)差）

2、測(cè)試報(bào)告

包含測(cè)試條件、樣品信息、原始數(shù)據(jù)

附著力-位移曲線和失效部位顯微照片

給出明確結(jié)論和改進(jìn)建議

以上就是小編介紹的有關(guān)于元器件失效分析相關(guān)內(nèi)容了，希望可以給大家?guī)韼椭?！如果您還想了解更多關(guān)于電阻推力圖片、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試方法和測(cè)試原理，推拉力測(cè)試機(jī)怎么使用視頻和圖解，使用步驟及注意事項(xiàng)、作業(yè)指導(dǎo)書，原理、怎么校準(zhǔn)和使用方法視頻，推拉力測(cè)試儀操作規(guī)范、使用方法和測(cè)試視頻 ，焊接強(qiáng)度測(cè)試儀使用方法和鍵合拉力測(cè)試儀等問題，歡迎您關(guān)注我們，也可以給我們私信和留言，【科準(zhǔn)測(cè)控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測(cè)試機(jī)在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導(dǎo)體、BGA元件焊點(diǎn)、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問題及解決方案。